存储芯片测试分选机 V9000-测试分选机-烧录器_烧录机_全自动化ic烧录机_芯片自动烧录器

V9000

昂科测试分选机

Automatic Test Handler

测试分选机

V9000是昂科推出的高性能大容量存储芯片测试分选机，本设备主要用于对UFS、SSD、eMMC、eMCP、LPDDR，UFS、UMCP等产品常温、高温环境下的SLT自动测试分选。

● IC自动上料，Tray自动分配，IC自动分BIN

● 集不同IC、Tray、BIB板的测试解决方案于一体

● CCD视觉检测，确保芯片的高精度取放作业

● 设备配备机械手臂，可同时满足open top和旋钮式老化板

● 效率: UPH>=1800 768个座子(25min长测时、UPH:1800)

● 精准视觉(+0.02mm)

● 吸嘴具有旋转纠偏功能

特色功能

超大容量老化测试系统

● 是市面常见设备的3倍以上的容量

● 预留天车、AGV接口

独立温控、压力控制系统

● 每颗芯片独立的温控检测系统

● 温控、压力控制更精准

CCD相机智能定位和调整

● 四组工业相机，精准搬送

● Auto Teach自动调整

ESD保护系统

● 顶尖公司认可的ESD处理系统

● 全内置进出料系统

高精度丝杆和导轨

● 精度高，稳定性好

● 易于维护

三重防叠料检测系统

● CCD视觉检测

● 吸嘴实时叠料检测(专利技术)

● UID比较

独有搬送托盘技术

● 日本技术、20年时间考验，超高稳定性搬送万无一失

产品规格表
设备性能	重复取放精度	±0.02mm
	取放装置	真空吸嘴×4，真空-80Kpa，流量≥44L/min
	单位产能	可高达2500UPH
控制系统	驱动方式	高性能伺服驱动系统
	传动架构	高性能伺服电机+同步带+滑轨传动系统
	解析度	X/Y/Z轴: 0.001mm, R轴: 0.036°/脉冲
Auto teach 视觉系统	下照式CCD数量	1组全局曝光500W分辨率高速相机
	上照式CCD数量	4组全局曝光160W分辨率高速相机
	Auto teach引导精度	+ -0.02mm
	目标自动捕捉	Socket测试座特征中心自动捕捉
3D视觉系统	CCD数量	全自动盘装进出料系统，约放20个JEDEC标准盘，异盘进出。
	光学成像模块	电子科枪进料.支持8-44mm卷带宽度可选配扩展到72mm
	高清双侧远行镜头	高清成像，最大支持1英寸CCD靶面
	尺寸管控	共面性检测、引脚起翘检测、锡球检测
分料台推料视觉引导系统	CCD数量	1组全局曝光160W分辨率高速相机
	自动引导	分料台自动引导，快速捕捉推料测试库位置
AOI检测系统		芯片字符完整性检测
测试系统	测试库数量	32个，可根据需求进行扩展
	测试载具	32个Socket+32个温控板+4个温控测试底板+1个测试主板
	测试温度	支持高温、常温测试，高温范围65°C~150°C，精度+3°C
	温度控制	可进行分区控温，配置高效降温系统
进/出系统	Tray盘上下料模块	1个Load区+1个Empty区+4个BIN区
	驱动方式	高性能伺服驱动系统+丝杆直线电机
	Tray盘上下料	抽屉式装料，单屉容纳Tray盘数量≥20pcs
	Tray盘升降系统	根据高度智能进行高度调整，确保Tray盘处于工作位
	Tray盘补盘系统	自动进行供料盘回收，自动进行BIN区补盘
分料台系统	驱动方式	高性能伺服驱动系统
	传动架构	高性能伺服电机+齿轮齿条+滚珠丝杠+滑轨传动系统
	推料系统	可精准快速完成载具进出功能
	偏移寻找系统	通过数组定义自动偏移寻测试库有无料位置
	电气控制系统	PLC:松下FPOH-C321T+逻辑语言: ST
主机载具输送系统	驱动方式	闭环步进驱动系统
	传动架构	闭环步进电机+高扭矩同步带+滑轨传动系统
	开闭盖模块	根据载具输送位置快速完成Socket盖子开闭功能
	开闭盖电气逻辑	通过两轴插补功能可自适应完成下压位置调整
	电气控制系统	PLC:松下FPOH-C321T+逻辑语言: ST+EtherNET/IP网络协议
操作系统	操作系统	Windows 11
	显示器	21寸触摸屏显示器
	输入装置	键盘、鼠标、操作手柄
操作环境	输入电压	200V~240V单相/50~60HZ/2KW(额定功率)
	空气压力	0.6MPa，约40L/min
	重量	约900KG
	尺寸	3500(L)3500(W)1920mm(H)