3月6日，备受瞩目的NEPCON智造创新大会在苏州福朋喜来登酒店3楼宴会厅举办。此次盛会，汇聚了来自新能源、汽车电子、AI、低空经济等领域的众多行业精英和领先企业，共同探讨智能制造的未来发展趋势和技术创新方向。作为行业领先的半导体测试解决方案提供商，昂科技术受邀出席本次盛会，并携旗下先进的芯片烧录、芯片老化测试分选等解决方案惊艳亮相，与业界同仁共话未来智造新篇章。

大会现场，来自各领域的专家学者和企业代表围绕新能源、汽车电子、AI、低空经济等热门话题展开了深入探讨和交流。新能源领域，与会嘉宾就新能源汽车发展趋势、电池技术创新等议题进行了深入探讨，为行业发展提供了新思路和新方向。汽车电子领域，智能网联汽车、自动驾驶技术等成为热议话题，与会嘉宾共同探讨了未来汽车电子技术的发展趋势和应用前景。AI领域，人工智能技术在智能制造中的应用成为焦点，与会嘉宾分享了AI技术在工业自动化、质量控制等方面的成功案例和应用经验。低空经济领域，激光雷达在低空经济安全中的关键作用与应用等备受关注，与会嘉宾共同探讨了低空经济的发展机遇和挑战。

作为本次大会的参展商之一，昂科技术凭借其领先的半导体测试解决方案和丰富的行业经验，吸引了众多参会者的目光。在展会现场，昂科技术重点展示了其自主研发的芯片烧录、芯片老化测试分选等解决方案，这些解决方案以其高效、稳定、可靠的特点，赢得了现场观众的一致好评。

芯片烧录解决方案：昂科技术的芯片烧录解决方案支持多种芯片类型和烧录协议，能够满足不同客户的个性化需求。其高效的烧录速度和稳定的烧录质量，为客户提供了可靠的芯片烧录服务。

芯片老化测试分选解决方案： 昂科技术的芯片老化测试分选解决方案采用先进的测试算法和分选技术，能够对芯片进行全面的老化测试和精准的分选，确保芯片的可靠性和稳定性。

在昂科技术的展位前，不断有合作伙伴和客户来询问交流。交流期间，昂科展区人头攒动，昂科专家为众多客户介绍了昂科的设备，客户也提出了在芯片测试过程遇到的一些问题，昂科专家对这些问题一一做了解答。

昂科技术作为半导体测试领域的全球领导企业，服务了包括博世、ZF、华为、法雷奥、联合汽车电子、联创、保隆等在内的全球众多知名企业。不仅为这些汽车电子企业的传统控制器中的MCU、FPGA、Flash、eMMC、UFS等芯片提供全自动离线/在线芯片烧录解决方案，还为这些企业提供了芯片老化测试解决方案。

昂科推出的烧录器以及老化测试分选产品，满足国内外芯片原厂不同的产品快速适配，依托自研的强大的PPA开发平台，对接MES制造执行系统，解决客户在芯片量产化方面的痛点和难点问题，使得整个过程都做到全程可控、可追溯。

昂科技术作为全球领先的最具创新能力的半导体测试供应商，将继续秉持“创新驱动、质量为本”的理念，不断加大研发投入，提升产品技术水平，为客户提供更加优质的产品和服务，为推动智能制造行业的发展贡献力量。