2025-09-04
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2025-08-28
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昂科技术作为芯片烧录领域的领导者,在推出新版烧录软件的同时,也宣布扩充了其兼容芯片型号列表。兆易创新的32位微控制器GD32C231K8T位列新增型号之中,现已获得昂科通用烧录平台AP8000的支持。
GD32C231K8T是一款基于Arm®Cortex®-M23内核的全新32位通用微控制器。Cortex-M23处理器是一款高能效、低门数的处理器,专为需要面积优化型设计的微控制器及深度嵌入式应用而开发。该处理器通过精简但功能强大的指令集和深度优化设计实现高能效,提供包括单周期乘法器和17周期除法器在内的高性能处理硬件。
GD32C231K8T集成了工作频率最高达48MHz的Arm®Cortex®-M23 32位处理器内核,并通过0~1等待周期的Flash访问实现最大效率。其配备最高64KB嵌入式Flash存储器和最高12KB SRAM存储器,并通过单APB总线连接丰富的增强型I/O及外设资源。该系列器件包含:1个12位ADC,2个模拟比较器,4个16位通用定时器,1个16位PWM高级定时器,通信接口:2个SPI、2个I2C、3个USART和1个I2S。
GD32C231K8T支持2.3~5.5V工作电压,适用于温度范围为-40至+85 °C的6级器件,以及温度范围为-40至105 °C的7级器件。多种省电模式可在唤醒延迟与功耗之间实现灵活优化,这对低功耗应用尤为重要。
上述特性使GD32C231K8T广泛适用于以下领域:工业控制、电机驱动、用户界面、电源监控与报警系统、消费电子、电动自行车和GPS定位终端等。
功能
• 32位Arm®Cortex®-M23处理器内核
– 最高48MHz工作频率
– 单周期乘法器17周期硬件除法器
– 超低功耗能效架构
– 优异代码密度
– 集成嵌套向量中断控制器(NVIC)
– 24位SysTick系统定时器
– 内部总线矩阵连接着AHB主控器、串行线调试端口和单周期I/O端口
– 嵌套向量中断控制器(NVIC)
– 断点单元(BPU)
– 数据观察点和跟踪(DWT)
– 串行调试端口
• 嵌入式存储器
– 高达64KB的Flash
– 高达12KB的SRAM,配备ECC
• 时钟、复位和电源管理
– 外部4至48MHz晶振
– 内部48MHz工厂校准RC振荡器
– 内部32KHz RC校准振荡器和外部32.768KHz晶振
– 2.3至5.5V应用电源和I/O接口
– 电源监控:POR(上电复位),PDR(掉电复位)
• 启动模式
– 从主Flash存储器启动(默认)
– 从系统内存启动
– 从片上SRAM启动
• 省电模式
– 运行模式
– 睡眠模式
– 深度睡眠模式
– 待机模式
• 通用输入/输出(GPIO)
– 高达45个快速GPIO,全部可映射到16条外部中断线上
– 模拟输入/输出可配置
– 可配置的复用功能输入/输出
• CRC计算单元(CRC)
– 支持7/8/16/32位数据输入
– 对于7(8)/16/32位的输入数据长度,计算周期分别为1/2/4个AHB时钟周期
– 配有与计算无关的独立8位寄存器,可以供其他任何外设使用
– 用户可以配置多项式及多项式长度
• 直接存储器访问控制器(DMA)
– 3个DMA控制器通道
– 来自DMAMUX的DMA请求:外设(定时器、ADC、SPI、I2C和 USART)和请求生成器
• DMA请求多路复用器(DMAMUX)
– 3个通道用于DMAMUX请求多路复用器
– 4个通道用于DMAMUX请求生成器
– 支持24个触发输入和24个同步输入
• ADC模数转换器(ADC)
– 12位SAR型ADC的转换速率可达1.60MSPS
– 硬件过采样率可调整从2x到256x,提高分辨率至12位
– 输入电压范围:VSS/VSSA至VDD/VDDA
– 温度传感器
• 实时时钟(RTC)
– 独立二进制编码十进制(BCD)格式定时器/计数器,配备4个32位备份寄存器
– 具备亚秒、秒、分、时、星期、日、月、年全自动校准的日历系统
– 支持从深度睡眠模式和待机模式唤醒的报警功能
– 支持与主时钟同步的动态即时校正
– 0.95ppm分辨率的数字校准功能,用于补偿石英晶体误差
• 定时器和PWM生成
– 最多包含4个16位通用定时器(TIMER2、TIMER13、TIMER15、TIMER16)及1个16位高级定时器(TIMER0)
– 每个通用定时器配备最多4路独立通道,支持PWM生成、输出比较或输入捕获功能,并支持外部触发输入
– 带正交解码器的双路编码器接口控制器
– 24位SysTick定时器递减计数器
– 2个看门狗定时器(独立看门狗与窗口看门狗)
– SysTick定时器专用于操作系统,亦可作为标准递减计数器使用,其特性包括:
– 24位递减计数器
– 自动重载功能
– 计数器归零时触发可屏蔽系统中断
– 可编程时钟源选择
• 通用同步异步收发器(USART/UART)
– 高达6MBits/s的三个USART
– 支持异步和时钟同步串行通信模式
– USART0支持红外数据协议(IrDA)串行红外(SIR)编码器和解码器
– USART0支持LIN总线断开帧生成与检测
– USART0符合ISO 7816-3标准的智能卡接口
– USART0支持双时钟域
– USART0支持从深度睡眠模式唤醒
• 内部集成电路总接口(I2C)
– 支持标准模式(最高100kHz)和快速模式(最高400kHz)
– I2C0支持快速+模式(高达1MHz)
– 同一接口既可实现主机功能又可实现从机功能
– 提供仲裁功能,可选的 PEC(报文错误校验)生成和校验。
– 支持7位和10位地址模式和广播寻址。
– 多个7位从机地址(两个地址可配置地址位屏蔽)
– I2C地址匹配时,由深度睡眠模式和深度睡眠模式1唤醒
• 串行外设接口(SPI)
– 具有全双工和单工模式的主从操作
– 16位宽度,独立的发送和接收缓冲区(只有SPI0)
– 32位宽度,独立的发送和接收FIFO(只有SPI1)
– 8位或16位数据帧格式(只有SPI0)
– 4位到16位的数据帧格式(只有SPI1)
– 低位在前或高位在前的数据位顺序
– 软件和硬件NSS管理
– 硬件CRC计算、发送和校验
– 发送和接收支持DMA模式
– 支持SPI TI模式
– 支持SPI NSS脉冲模式
– 支持SPI四线功能的主机模式(只有SPI1)
• 片上音频接口(I2S)
– 采样频率从8kHz到192kHz
– 支持主机模式或从机模式
• 比较器(CMP)
– 两个快速轨对轨低压比较器,具有软件可配置性
– 可编程参考电压(内部或外部I/O)
• 调试模式
– 串行线调试端口(SW-DP)
• 封装和工作温度
– LQFP32
– 工作温度范围:6级器件为-40至+85°C(工业级),7级器件为-40至+105°C(工业级)
系统框图
昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器,已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式,并提供在线、离线双工作模式,尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案,可全面覆盖兆易创新全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计,赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台,其不仅能适配市场上各类可编程芯片,更以稳定高效的性能表现,成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件,可高效处理大规模芯片烧录任务,满足量产需求。
AP8000主机具备灵活的连接方式,同时配备USB和NET接口,可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能,用户能够轻松实现多台编程器的同步控制,高效开展并行烧录作业。在安全性方面,主机内置智能安全保护电路,可实时监测芯片放置状态与电路连接情况,一旦检测到芯片反插、短路等异常,将立即触发断电保护机制,全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片,大幅提升数据传输与处理效率,确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性,主机背部设置SD卡槽,用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡,并插入卡槽,即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作,实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖,还简化了工作环境搭建流程,显著提升操作灵活性。
在扩展性与兼容性上,AP8000采用底板与适配板模块化组合设计,有效拓展主机功能边界。目前,该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持,覆盖ESPRESSIF, ALLWINNER, ALLEGRO, TI, RENESAS等知名品牌。其支持器件类型广泛,涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等,并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式,为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。
公司介绍
关于兆易创新:兆易创新(GigaDevice)成立于2005,是一家致力于开发先进的存储器技术、MCU和传感器解决方案的领先无晶圆厂半导体公司,公司的核心产品线为存储器、32位通用型MCU及智能人机交互传感器芯片及整体解决方案,产品以“高性能、低功耗”著称,为工业、汽车、计算、消费类电子、物联网、移动应用以及网络和电信行业的客户提供全方位服务。
关于昂科技术:昂科技术(ACROVIEW)是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、BI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。
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