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昂科烧录器支持WCH沁恒微电子的32位工业级通用微控制器CH32V303RCT

时间:2026-04-21   访问量:1170

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芯片烧录领导者昂科技术在发布新版烧录软件的同时,宣布拓展兼容芯片型号范围。其中,旗下通用烧录平台AP8000已全面适配沁恒微电子的32位工业通用微控制器CH32V303RCT,为相关客户提供高效可靠的专业烧录支持。

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CH32V303RCT是基于32位RISC-V设计的工业级通用微控制器,配备了硬件堆栈区、快速中断入口,在标准RISC-V基础上大大提高了中断响应速度。CH32V303RCT搭载V4F内核。加入单精度浮点指令集,扩充堆栈区,具有更高的运算性能,扩展串口UART数量到8组,电机定时器到4组。

CH32V303RCT 

产品特点

• 青稞V4F处理器,最高144MHz系统主频

• 支持单周期乘法和硬件除法,支持硬件浮点运算(FPU)

• 64KB SRAM,256KB Flash

• 供电电压:2.5/3.3V,GPIO单元独立供电

• 多种低功耗模式:睡眠、停止、待机

• 上/下电复位、可编程电压监测器

• 2组18路通用DMA

• 4组运放比较器

• 1个随机数发生器TRNG

• 2组12位DAC转换

• 2单元16通道12位ADC转换,16路触摸按键TouchKey

• 10组定时器

• 1个USB2.0 FS主机/设备接口

• 3个USART接口和5个UART接口

• 1个CAN接口(2.0B主动)

• SDIO接口、FSMC接口

• 2组IIC接口、3组SPI接口、2组IIS接口

• 80个I/O口,可以映射到16外部中断

• CRC计算单元,96位芯片唯一ID

• 串行2线调试接口

• 封装形式:LQFP48、LQFP64M、LQFP100


系统框图.png 

系统框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器,已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式,并提供在线、离线双工作模式,尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案,可全面覆盖沁恒微电子全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计,赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台,其不仅能适配市场上各类可编程芯片,更以稳定高效的性能表现,成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件,可高效处理大规模芯片烧录任务,满足量产需求。


AP8000_通用烧录器_芯片烧录器

 

AP8000主机具备灵活的连接方式,同时配备USB和NET接口,可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能,用户能够轻松实现多台编程器的同步控制,高效开展并行烧录作业。在安全性方面,主机内置智能安全保护电路,可实时监测芯片放置状态与电路连接情况,一旦检测到芯片反插、短路等异常,将立即触发断电保护机制,全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片,大幅提升数据传输与处理效率,确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性,主机背部设置SD卡槽,用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡,并插入卡槽,即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作,实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖,还简化了工作环境搭建流程,显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上,AP8000采用底板与适配板模块化组合设计,有效拓展主机功能边界。目前,该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持,覆盖HAAWKING, XHSC, ZHIXIN, SAMSUNG, KIOXIA等知名品牌。其支持器件类型广泛,涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等,并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式,为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

公司介绍

关于沁恒微电子沁恒微电子(WCH)成立于2004年,是一家接口芯片和全栈MCU芯片公司。沁恒专注于连接技术和MCU内核研究,基于底层IP研发+芯片设计+底层共性软件开发的全栈研发模式,以自研的处理器IP和收发器IP模块为主,整合构建USB、以太网、蓝牙等接口芯片,及连接型/互联型/无线型全栈MCU+单片机。技术上涉及“感知+控制+连接+云聚”:ADC模拟检测、MCU智能控制及电机驱动算法、HID人机交互、Ethernet/Bluetooth-LE网络通信、UART/USB/PD/PCI/CAN等接口通讯、物联协议和云端服务,致力于为客户提供万物互联、上下互通的芯片及解决方案。

 

关于昂科技术:昂科技术(ACROVIEW)是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。

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