SC8F2892B是中微半导体推出的触摸型增强闪存芯片，Flash4Kx14Bit、RAM256B，内置RC振荡8MHz/16MHz,工作电压2.5V-5.5V,GPIO多达14个，内置触摸按键功能，内置WDT、LVD、高精度12位ADC、2路运算放大器、提供5路PWM。

功能

• 内存

– ROM：4Kx16Bit

– 通用RAM：256x8Bit

• 8级堆栈缓存器

• 简洁实用的指令系统(66条指令)内置低压侦测电路

• 内置WDT定时器

• 中断源

– 2个定时中断

– RA/RB口电平变化中断

– 其它外设中断

• 定时器

– 8位定时器TIMER0，TIMER2

– TIMER2可选择外部32.768KHz振荡时钟源

• 内置1路SPI通信模块

• 内置1路IIC通信模块

• 内置1路USART通信模块

– 支持同步主从模式和异步全双工模式

• 内置触摸按键模块

• 工作电压范围：2.5V~5.5V@16MHz；2.1V~5.5V@8MHz

• 工作温度范围：-40°C~85°C

• 内部RC振荡：设计频率8MHz/16MHz

• 指令周期(单指令或双指令)

• 带互补输出的PWM模块

– 5路PWM，可设置成2路互补输出

– RB0/RB1，RB3/RB4可使能70mA大电流驱动

– 5路PWM共用周期，独立占空比

• 高精度12位ADC

– 内建高精度0.6V基准电压

– ±1.5%@VDD=2.5V~4.5V TA=25°C

– ±2%@VDD=2.5V~4.5V TA=-40°C~85°C

– 可选择内部参考源：2V/2.4V/3.0V

• 内置LVD模块

– 支持多种电压2.2V/2.4V/2.7V/3.0V/3.3V/3.7V/4.0V/4.3V

• 内置2路高性能运放

• 内置32字节程序EEPROM

– 可重复烧写10万次

系统结构框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖中微半导体全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖HAAWKING, XHSC, ZHIXIN, SAMSUNG, KIOXIA等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于中微半导体：中微半导体（Cmsemicon）成立于2001年，专注于数模混合信号芯片、模拟芯片的研发、设计与销售。主要产品包括家电控制芯片、消费电子芯片、电机与电池芯片、传感器信号处理芯片及功率器件等，广泛应用于家用电器、消费电子、电机电池、医疗健康、工业控制、汽车电子和物联网等领域。目前已完成以MCU为核心的芯片开发平台，实现了芯片的结构化和模块化开发，具备8位和32位MCU、高精度模拟、功率驱动、功率器件、无线射频和底层核心算法的设计能力，可针对不同细分领域做出快速响应。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。