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昂科烧录器支持Analog Devices亚德诺半导体的安全认证器DS28E16X-S+T

时间:2026-05-25   访问量:1010

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芯片烧录领导者昂科技术在发布全新版本烧录软件的同时,正式宣布进一步拓展兼容芯片的型号覆盖版图,公司旗下核心产品——通用烧录平台AP8000,目前已实现与亚德诺半导体的安全认证器DS28E16X-S+T的全面适配。

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DS28E16X-S+T安全认证器集FIPS202兼容安全散列算法(SHA-3)质询和响应认证与安全EEPROM于一身。

DS28E16X-S+T提供一组核心加密工具,包括SHA-3引擎、256位安全EEPROM、递减计数器和唯一的64位ROM识别码(ROM ID)。唯一的ROM ID用作加密运算的基本输入参数,也作为应用中的电子序列号。器件通过单触点1-Wire®总线通信。通信采用1-Wire协议,ROM ID作为多器件1-Wire网络中的节点地址。‌‌‌‌

 

DS28E16X-S+T 

特性

• 可靠反制措施,防御安全攻击

• 所有储存的数据采用加密保护,防止侦测

• 安全散列算法对外设进行认证

• FIPS 202兼容的SHA-3算法,支持质询/应答安全认证

• FIPS 198兼容的密钥散列信息验证代码(HMAC)

• 附加特性便于集成到最终应用

• 17位一次性可设置、非易失递减计数器,带安全认证读操作

• 安全密钥存储

• 256位用户数据安全EEPROM

• 唯一且不可更改的工厂编程64位识别码(ROM ID)

• 先进的1-Wire协议,将接口减少为单触点

• 全时高速通信

• 内部寄生供电电容

• 工作范围:1.71V–3.63V,-40°C至+85°C

• WLP和TDFN-EP封装

• ±8kV HBM ESD保护(典型值)

• 3.5µA(典型值)输入负载电流

 

应用

• 配件和外设安全认证

• 电池认证和充电循环跟踪

医疗工具/附件认证和校准

 

内部框图

内部框图

 

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器,已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式,并提供在线、离线双工作模式,尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案,可全面覆盖亚德诺半导体全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计,赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台,其不仅能适配市场上各类可编程芯片,更以稳定高效的性能表现,成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件,可高效处理大规模芯片烧录任务,满足量产需求。

 

AP8000_通用烧录器_芯片烧录器 

 

AP8000主机具备灵活的连接方式,同时配备USB和NET接口,可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能,用户能够轻松实现多台编程器的同步控制,高效开展并行烧录作业。在安全性方面,主机内置智能安全保护电路,可实时监测芯片放置状态与电路连接情况,一旦检测到芯片反插、短路等异常,将立即触发断电保护机制,全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片,大幅提升数据传输与处理效率,确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性,主机背部设置SD卡槽,用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡,并插入卡槽,即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作,实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖,还简化了工作环境搭建流程,显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上,AP8000采用底板与适配板模块化组合设计,有效拓展主机功能边界。目前,该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持,覆盖SK hynix, Micron, SANDISK, ASR, Kingston等知名品牌。其支持器件类型广泛,涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等,并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式,为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。


公司介绍

关于亚德诺半导体:亚德诺半导体(Analog Devices)是高性能模拟、混合信号和数字信号处理(DSP)集成电路(IC)设计、制造和营销方面世界领先的企业,产品涉及几乎所有类型的电子电器设备。亚德诺半导体生产各种创新产品-包括数据转换器、放大器和线性产品、射频(RF)IC、电源管理产品、基于微机电系统(MEMS)技术的传感器、其他类型传感器以及信号处理产品,包括DSP和其他处理器-全部是为满足广大客户的需求而设计。

 

关于昂科技术:昂科技术(ACROVIEW)是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。

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