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芯片烧录领导者昂科技术在发布全新版本烧录软件的同时,正式宣布进一步拓展兼容芯片的型号覆盖版图,公司旗下核心产品——通用烧录平台AP8000,目前已实现与艾尔默斯半导体的无刷电机控制器E523.52的全面适配。

E523.52是一款可编程高压无刷电机控制器,适用于24V~48V车载、工业及商用车应用场景。器件集成3路半桥驱动器、一路11V降压转换器、两路线性稳压器,以及搭载32KB闪存16位RISC微控制器。
该DC-DC转换器可高效输出11V电压,为六路栅极驱动器、内部线性稳压器以及外部霍尔传感器等其他负载供电。芯片配备多达9路可配置IO引脚,方便与应用电路及外部设备进行接口通信。所有IO口均可由12位、1MS/s模数转换器(ADC)进行采样,并支持直接存储器访问功能。三片内置死区时间的自推进式PWM发生器可实现多种工作波形。全集成反电动势通路支持无传感器换相功能。ADC可实现自动触发,便于编写复杂的换相控制算法。芯片存储空间可划分为保护存储区与现场可编程存储区。
E523.52内置温度检测功能,搭配散热性能优异的36引脚QFN封装,可使驱动部分在接近150℃最高结温条件下稳定工作。

特征
• 供电电压范围:12V~72V,最低工作电压可至7V
• 内置11V/100mA高效DC-DC转换器,用于栅极供电及其他负载供电
• 三路互补式200mA栅极驱动器,支持可编程死区时间及多重保护功能
• 集成车用16位RISC处理器,搭载硬件乘累加器(MAC)与除法运算单元
• 32KB闪存,具备ECC纠错保护功能
• 16KB只读存储器(ROM)
• 4KB静态随机存储器(SRAM),内置奇偶校验保护
• 自推进式半桥PWM发生器,可自主生成各类换相波形
• 1MS/s 12位模数转换器(ADC),搭载与PWM同步的自主采样序列引擎,支持直接存储器访问
• 集成1个SPI通信模块
• 4路定时器捕获/比较单元,支持正交编码器接口(QEI)模式
• 1路高压使能引脚,9路通用输入输出引脚(GPIO)
• 采用7×7mm 36引脚QFN封装,散热性能优异
• 通过AEC-Q100 0级车规认证,最高工作温度可达150℃
应用
• 适用于48V乘用车及商用车应用场景
• 适用于24V~72V工业级无刷直流电机(BLDC)
架构框图
昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器,已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式,并提供在线、离线双工作模式,尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案,可全面覆盖艾尔摩斯半导体全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计,赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台,其不仅能适配市场上各类可编程芯片,更以稳定高效的性能表现,成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件,可高效处理大规模芯片烧录任务,满足量产需求。
AP8000主机具备灵活的连接方式,同时配备USB和NET接口,可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能,用户能够轻松实现多台编程器的同步控制,高效开展并行烧录作业。在安全性方面,主机内置智能安全保护电路,可实时监测芯片放置状态与电路连接情况,一旦检测到芯片反插、短路等异常,将立即触发断电保护机制,全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片,大幅提升数据传输与处理效率,确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性,主机背部设置SD卡槽,用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡,并插入卡槽,即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作,实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖,还简化了工作环境搭建流程,显著提升操作灵活性。
在扩展性与兼容性上,AP8000采用底板与适配板模块化组合设计,有效拓展主机功能边界。目前,该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持,覆盖SK hynix, Micron, SANDISK, ASR, Kingston等知名品牌。其支持器件类型广泛,涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等,并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式,为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。
公司介绍
关于艾尔摩斯半导体:艾尔摩斯半导体(Elmos )成立于1984年,专注于设计、开发和生产电子系统和集成电路解决方案。作为一家领先的汽车电子和工业应用半导体供应商,艾尔摩斯半导体致力于提供高品质、高性能的产品,满足不同行业的需求。
关于昂科技术:昂科技术(ACROVIEW)是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。
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