ACL16芯片是一款32位的安全芯片，专门面向低成本、低功耗的应用领域，特别针对各类USB KEY和安全SE等市场提供完善而有竞争力的解决方案。芯片采用32位内核，片内集成多种安全密码模块，包括SM1、SM2、SM3、SM4算法以及RSA/ECC、DES/3DES、 AES、SHA1/SHA256等安全算法，支持真随机数发生器。芯片提供了多种外围接口：USB2.0全速、SPI、UART、ISO7816、I2C等，内置ROSC，支持免晶振应用。

ACL16产品有两种容量类型(320K和256K)的片内eFlash，16K字节的ROM， 16K字节的片内SRAM，4K字节算法专用SRAM，其中片内ROM提供各种算法接口程序供用户调用，使得开发效率提高，系统性能得到优化。‌‌‌‌

特性

• 密码算法(国际+国密双栈)

– 国密：SM1/SM2/SM3/SM4

– 国际算法：RSA/ECC、AES、DES/3DES、SHA1/SHA256

– 内置FIPS合规真随机数发生器TRNG，硬件密码引擎，不依赖软件实现加密运算

• 安全防护能力

– 主动屏蔽层、存储器权限保护、环境异常检测(电压/温度/时钟)

– 抗SPA/DPA旁路攻击、抗错误注入攻击，密钥在片内运算，密钥不对外导出

– Wafer级预置根密钥，支持一机一密，防克隆、防抄板、设备双向质询认证

• 存储与内核资源

– 32位Cortex-M0内核，最高48MHz

– eFlash：64K/128K/256K/320KB多版本；SRAM：4K~16KB

– 内置ROM、算法专用SRAM；支持文件系统、多安全分区、细粒度访问权限控制

• 丰富通信接口

– 通用：SPI、I2C、UART、ISO7816

– 带USB2.0全速，支持免外部晶振(内置ROSC)

• 功耗、封装与可靠性

– 低功耗，动态功耗<3mA，待机<1μA，适配电池供电物联网设备

– 宽温：工业版-40~85℃，ESD防护±8kV HBM

应用

• USB Key

• 读卡器

• 手持POS机

• TF/SD卡

• 车联网终端

结构框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖航芯电子全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖SK hynix, Micron, SANDISK, ASR, Kingston等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于航芯电子：航芯电子（AisinoChip）成立于2008年1月，是具有市场竞争力和行业优势的本土集成电路设计企业佼佼者，专注于安全芯片和MCU芯片的研制。航芯量产的多规格系列化芯片在车联网、人工智能、物联网、工业控制、视频监控、智能识别、金融支付、电子政务等领域得到广泛应用。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。