MPQ8887GVE-AEC1是一款高效率同步降压变换器，它集成了两个功率MOSFET，能够在宽输入电压(VIN)范围内高效率调节输出电压(VOUT)，峰值输出电流(IOUT)高达9A。该器件具备可调VOUT和可调平均IOUT限值，非常适合无线充电、USB扩展功率范围(EPR)供电(PD)应用以及大功率直流电源应用。

MPQ8887GVE-AEC1通过I2C串行接口实时控制VOUT，并可通过该接口选择电压转换斜率、开关电流限值、平均IOUT限值以及输出过压保护(OVP)功能。

其电流模式控制可实现快速瞬态响应，并简化环路稳定性。该器件还提供全面的保护功能，包括输入欠压锁定(UVLO)保护、输入和输出过压保护(OVP)、输出过流保护(OCP)以及过温关断保护。

MPQ8887GVE-AEC1通过一次性可编程(OTP)存储器来实现灵活的配置。

MPQ8887GVE-AEC1提供了非常紧凑的解决方案，所需标准外部元件极少。它采用QFN-24(4x5mm)封装，并符合AEC-Q100认证。

产品特性和优势

• 4.5V至65V宽输入电压(VIN)范围，70V最大绝对电压

• 1V至55V宽输出电压(VOUT)范围

• 0V至2.047V反馈参考电压范围，0.5mV/步长

• 高达9A的峰值电流

• 效率高达97.67%(36VOUT/5A负载)

• I2C操作关闭时具有180µA低静态电流(IQ)

• 可配置峰值/谷值限流值

• 支持四相并联操作以及相移

• 支持真正的100%占空比运行

• ±5%输出恒流(CC)限流精度

• 可选自动高级异步调制(AAM)/脉宽调制(PWM)模式、带频谱扩展(FSS)功能的强制PWM(FPWM)模式

• 200kHz至600kHz可配置开关频率(fSW)，支持时钟同步

• 14mΩ/18mΩ低导通电阻(RDS(ON))内部降压功率MOSFET

• 支持VCC电压(VCC)偏置以提高效率

• 可配置线路压降补偿

• 可配置输出放电电流

• 过压保护(OVP)、过流保护(OCP)、过温保护(OTP)及中断

• 电源正常(PG)指示

• 采用侧面镀锡的QFN-24(4x5mm)封装

• 符合AEC-Q100等级1认证

内部框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖芯源半导体全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖HAAWKING, XHSC, ZHIXIN, SAMSUNG, KIOXIA等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于芯源半导体：芯源半导体（MPS）是一家全球知名的高性能模拟半导体公司，总部位于美国加州圣荷塞，公司创建于1997年，拥有自主创新工艺技术，专注于新设计和定义高性能电源管理方案的模拟和混合信号半导体公司，目前自主研发电源管理产品已超过4000种，广泛应用于工业、通信基础设施、云计算、汽车以及消费类电子等领域。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。