2026-08-10
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芯片烧录领导者昂科技术在发布全新版本烧录软件的同时,正式宣布进一步拓展兼容芯片的型号覆盖版图,公司旗下核心产品——通用烧录平台AP8000,目前已实现与赛元微的电机驱动微控制器SC32M155C6P的全面适配。

SC32M155C6P是基于Arm Cortex®-M0+内核的工业级、32位Flash微控制器,专为电机驱动应用设计,运行频率最高72MHz。Cortex®-M0+内核采用32位精简指令集(RISC),符合 CMSIS 标准。
SC32M155C6P具有强大的数据处理能力,内部集成的直接存储器访问控制器(DMA)可实现高速的数据传输,硬件CRC模块及内部集成的运算加速单元(MathRhythm,简称MR)进一步提升了数据运算速度。
SC32M155C6P微控制器内嵌高精度高频振荡器(HIRC)和低频32kHz振荡器(LIRC),同时提供一个32.768 kHz低频晶振(LXT)接口。内嵌时钟源及外部晶振接口均可为系统提供时钟信号,内置的系统时钟监控模块具备时钟源切换功能,当系统时钟出现异常时,能自动将时钟源切换至HIRC,以确保系统稳定运行。
SC32M155C6P微控制器的外设资源丰富,包括:最多44个可外部中断的 GP I/O、4个16位定时器、8路16 Bits增强型多功能EPWM(带互补死区及故障检测功能)、3个独立UART(其中UART2具有完整的LIN接口,支持主/从机模式)、一个独立的CAN接口(支持CAN-specification 2.0B和CAN FD)、2个 SPI、2个TWI、独立的PCAP模块、2个独立的QEP模块、3个模拟比较器CMP0~2以及一个独立的模拟比较器CMP3。此外,还配备有三个独立运放、一个10 Bits DAC、18路12 Bits高精度高速ADC(支持双路同步采样保持及阈值报警)、一个温度传感器模块、内建独立的看门狗定时器(WDT)和低电压复位电路(LVR),有效提升了系统的可靠性。
SC32M155C6P微控制器支持2.0-5.5V宽范围工作电压,可在-40℃~105℃环境温度下运行。同时,该系列微控制器提供三种功耗模式,可满足不同应用场景下的功耗需求,实现高效能与低功耗的结合。
SC32M155C6P微控制器采用业界领先的eFlash制程技术,Flash写入次数大于10万次,常温下数据可保存100年,具备良好的ESD性能及EFT抗干扰能力。SC32M155C6P最大可提供128Kbytes APROM空间、8Kbytes SRAM(支持奇偶校验功能)、2Kbytes用户存储区域(类EEPROM)以及4Kbytes系统存储区(LDROM)。内置系统存储区可支持OTA升级,同时提供 ISP(In System Programing)、ICP(In Circuit Programing)和IAP(In Application Programing)多种程序升级方式,允许芯片在线或带电情况下,在板调试与升级程序。
SC32M155C6P具有极佳的特性,配合其出色的抗干扰性能,可应用于各种电机驱动方案和主控控制方案,应用范围涵盖:电机驱动、大小智能家电、智能家居、物联网、新能源等工业控制和消费领域。
主要功能
工作条件
• 工作电压:2.0V~5.5V
• 工作温度:-40~+105℃
EMS
• ESD
– HBM:JS-001-2023 Class 3A
– MM:JEDEC EIA/JESD22-A115 Class C
– CDM:ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022 Class C3
• EFT
– EN61000-4-4 Level 4
封装类型
• 28 PIN:TSSOP28
• 32 PIN:LQFP32(7X7)/QFN32(4X4)
• 48 PIN:LQFP48(7X7)/QFN48(5X5)
内核
• Cortex®-M0+内核
• 带WIC(wakeup interrupt controller)模块
• 64 Bits指令预取
• 自带乘法器
复位
• 上电复位POR
• 软件RST复位
• 通过外部NRST脚(PC11)低电平复位
• 看门狗(WDT)复位
• 低电压复位(LVR)
– 复位电压有4级可选:分别是:4.3V、3.7V、2.9V、1.9V
– 缺省值为用户烧写Code Option所选值
总线
• 1个IOPORT
• 1个AHB
• 3个APB:APB0~APB2
省电模式
• 低速模式:系统时钟源可选择LIRC,CPU可工作在32kHz
• IDLE Mode,可由任何中断唤醒
• STOP Mode,由INT0~15、Base Timer和CMP唤醒
存储
主存储区APROM
• 最大128 Kbytes APROM
• 可重复写入10万次
• 支持硬件读保护加密
• 支持硬件写保护:提供两段禁止IAP操作的区域,用户可通过Code Option设置项,最小设置单位为512bytes(一个扇区)
系统存储区LDROM
• 4Kbytes系统存储区,出厂固化BootLoader程序
SRAM
• 8Kbytes Internal SRAM
• 支持奇偶校验
– 额外的1K RAM用于奇偶校验:即SRAM数据总线宽度为36位,其中有4位用于奇偶校验(每字节1位)
– 奇偶校验位在写入SRAM时进行计算和保存,在读取时自动进行校验。如果某一位失败,则将生成NMI
– 提供独立的SRAM奇偶校验错误标志SRAMPEIF
– 使用时需要注意对SRAM初始化
• 支持从SRAM自举
2K Bytes用户存储区(类EEPROM)
• 分为4个512 bytes扇区
• 可重复写入10万次
• 常温25℃下数据可保存100年
96 Bits unique ID
• IFB区域提供96 Bits unique ID
BootLoader
• 硬件方式:系统存储区:4Kbytes,出厂固化BootLoader程序
• 软件方式:支持中断向量表重映射,可从APROM区域灵活划分出用户BootLoader程序运行区
烧写和仿真
• 烧录方式支持ICP/ISP/IAP
• 2线JTAG/SWD烧写和仿真接口
• 加密状态下不支持仿真功能
时钟源
内建72MHz高频振荡器(HIRC)
• 作为系统时钟源
• 系统上电默认时钟频率fSYS=fHIRC/2
• 频率误差:跨越(2.0V~5.5V)及(-40~105℃)应用环境下的频率误差≤±1%
• 可通过32.768kHz外接晶振进行自动校准,校准后HIRC精度可无限接近外接32.768kHz晶振的精度
内建32kHz低频振荡器(LIRC)
• 作为系统时钟源
• 固定为WDT时钟源,WDT使能后此时钟源必开启
• 作为Base Timer时钟源,可唤醒STOP
• 频率误差:跨越(4.0~5.5V)及25℃应用环境,经寄存器修正后频率误差≤±4%
可外接32.768kHz低频晶振(LXT)
• 作为系统时钟源
• 作为Base Timer时钟源
• 外接32.768kHz振荡器
• 可通过LXT对HIRC进行自动校准
中断源
• 提供27个中断源
• 四级中断优先级可设
• 外部中断INT
– 16个INT中断源,共占用4个中断向量
– INT经切换设置后可覆盖到所有的GPIO管脚
– 全部可设上升沿、下降沿、双沿中断,且均有独立对应中断标志位
– 软件置起相应中断标志位,可触发进入相应的中断
数字外围
最大44个双向可独立控制GPIO
• 可独立设定上拉电阻
• 全部IO具有大灌电流驱动能力(50mA)
看门狗WDT
• 内置WDT,溢出时间3.94~500ms可设
Base Timer(BTM)
• 时钟源LXT和LIRC可选
• 中断频率间隔15.625ms~32s可选
• 可唤醒STOP Mode
4个16位定时/计数器(TIM)Timer0~Timer3
• 16位递增、递减、递增/递减自动重载计数器
• 支持上升沿/下降沿捕获,可实现PWM duty和周期捕获
• 每个TIM提供两路共周期、占空比可调的PWM(TPWMA/TPWMB)输出
• TIM1、TIM2的定时器溢出及捕获事件可触发DMA请求
• 所有Timer的Tn/TnCAP/ TnPWMA、和TnEX/TnPWMB管脚均支持重映射
8路16位高级多功能EPWM
• 增强型8路16位共周期多功能EPWM
– 每一路EPWM的输出可单独使能
– 每一路EPWM的可单独可设比较值,所以也可以独立设置占空比
– 每一路 EPWM 的输出波形可单独设置反向
• 8路EPWM输出线序可设
• 联动功能:提供四个EPWM比较值,当EPWM计数值达到设定比较值,可触发响应的ADC序列采样
• 对齐方式
– 中心对齐型,包含中心对齐对称模式和中心对齐非对称模式
– 边沿对齐型
• 可设为独立模式或互补模式
– 独立模式下,8路EPWM周期相同,但每一路EPWM的打开及输出波形翻转比较值可单独调整
– 互补模式下可同时输出四组互补、带死区的EPWM波形
• 支持故障检测机制
– 6种故障触发源:软件触发、CMP0、CMP3、OP1、OP2和外部FLT管脚
– 两种故障响应方式:cycle by cycle和one-shot
– 每个触发源可单独设置触发电平和故障响应方式
– 故障触发后,每路EPWM的输出状态单独可设
– 故障检测输入信号滤波时间可设
• 两种溢出中断:向上溢出与向下溢出中断
• 两种故障响应中断:cycle by cycle和one-shot
三相捕获模块PCAP(3 phase capture)
• 包含1个独立24 Bits自动重载计数器,可设定计数门限
• 三路PCAP输入信号:PCAP0/PCAP1/PCAP2
• 输入信号两级滤波可设,滤波前后的捕获电平状态均可读取
• 计数器溢出事件和边沿捕获事件均可触发DMA请求
• 鉴相功能:可判断三相信号互差60°/120°情况下的时序异常
2个独立正交编码捕捉模块(QEP)
• 可以与线性或旋转增量编码器等设备连接,用于获取机器的位置、方向等信息
• 提供3种计数模式
– 正交计数
– 方向计数
– 双脉冲计数
• 每个QEP模块各提供3个输入信号口:QEPnA、QEPnB和QEPnI,n=0~1
– 输入信号QEPnA、QEPnB可交换输入方向
– 输入信号QEPnA、QEPnB可单独配置各自的输入极性
– 为输入信号QEPnA、QEPnB和QEPnI提供最大128分频的数字输入滤波器
• 方向计数和双脉冲计数模式下可选择上升沿、下降沿或双沿计数
• 位置计数器提供2种复位模式:index事件复位、溢出复位
• 支持4种中断源
– 上溢中断
– 下溢中断
– Index复位中断
– 边沿触发中断
3个独立UART通信口UART0~2
• UART2为完整的LIN接口
– 主从模式可切换
– 支持主机模式下硬件break发送(10/13 Bits)
– 支持从机模式下硬件break检测(10/11 Bits)
– 支持从机模式下波特率同步
– 提供相关中断/状态位/标志位
• 每一路UART信号口均可切换至两组IO
– 其中UART0映射在烧录口上时仅支持半双工通信
• 独立波特率发生器
• UART0/1支持从STOP模式唤醒
• 三种通讯模式可选
– 模式0,8位半双工同步通信模式
– 模式1,10位全双工异步通信
– 模式3,11位全双工异步通信
• UART0和UART1支持DMA请求
• UART2不支持DMA请求
一个独立的SPI通信口SPI0
• SPI0信号口可切换至两组IO
• 提供16位8级FIFO,收发独立
• SPI模式下相应的信号口驱动能力将增强
• 支持DMA
一个独立TWI通信口TWI0
• TWI0信号口可切换至三组IO
• 可配置为主模式或从模式
• 从模式下支持时钟延展
• 通信速率可达1Mbps
• TWI0支持DMA
一个二合一通信口SPI1&TWI1
• SPI1和TWI1功能完全独立,寄存器地址和信号口复用
• SPI1和TWI1信号口可切换至四组IO
• SPI1支持DMA
• TWI1
– 可配置为主模式或从模式
– 从模式下支持时钟延展
– 通信速率可达1Mbps
CAN通信口
• 协议支持
– CAN-specification 2.0B
– CAN FD
• 支持待机模式
• 时间戳
– CiA 603:64 Bits时间戳,发送帧(TTS)支持一个时间戳,存放在寄存器里,但所有的接收帧(RTS)都有单独的时间戳
• 收发缓存
– 8组接收缓存(RB)
– 9组发送缓存(TB)
– 8组接收滤波器(支持29 Bits)
内建CRC校验模块
• 初始值可设,默认为0xFFFF_FFFF
• 多项式可编程,默认为0x04C1_1DB7
• 支持8/16/32 Bits数据单元
DMA
• 4个可独立配置的通道
• 每个DMA通道可向其它通道发送DMA请求
• 数据宽度支持字节,半字,字
• 23个DMA请求源,四个请求优先级
• 支持源/目标地址自动增加或固定
• 支持单笔和批量传输方式
• 传输方式支持:内存到内存、内存到外设、外设到内存、外设到外设
模拟外围
模拟外围的参考电压有5种选择
• VDD、2.4V、2.048V、1.024V和外部Vref PIN输入源
内建基准电源模块VREF
• 内建2.4V、2.048V和1.024V三种基准电压
• 可选择外部Vref输入源作为系统模拟电路基准
• 可选择VDD作为系统模拟电路基准
• ADC/DAC/OP均可独立选择基准源或输入源来自VDD还是VREF模块
数模转换器DAC
• 精度:10位
• 输出方式
– 两个独立的DAC输出端口DACOUT0和DACOUT1
– 内部可输出至OP1/OP2的反相端
– 可输出至CMP0/1/2/3的负端
模数转换器ADC
• 精度:12位
• 最多支持18路通道
– 16路外部ADC采样通道AIN0 ~ AIN15
– 三路AIN与OP复用,可测量OP模块的输出信号,分别为OP0、OP1、OP2
– 内部一路ADC可直接测量VDD电压
– 内部一路温度采样通道
• 提供ADC阈值看门狗,可同时设定上下阈值,可触发中断
• 两路采样保持电路
– 支持两路通道同时采样
– 单采样模式和双采样模式可选
• 触发模式可选
– 手动触发(即软件触发)
– 序列触发:四组序列可设,可通过EPWM计数值触发序列采样
• 可设ADC转换完成中断,四组序列均有独立的转换完成中断及对应标志位
• 单次转换时间约为404ns
• 支持DMA传输:ADC转换完成可产生DMA请求
• ADC转换结果支持溢出提醒,当溢出发生时OVERRUN标志位置起,且OVERRUN标志位与ADC转换结果在同一寄存器ADCV,用户可一次性读取
运放及可编程增益放大器(OP)
• 内建三个独立的Rail-to-Rail可配置增益放大器:OP0/OP1/OP2
• OP1/OP2可设置为比较器(CMP)模式
– 输出可作为EPWM fault触发源
– CMP模式下迟滞电压固定为10~15mV
– CMP模式下的响应时间:典型值50ns
• 三个OP均可配置为PGA模式
– 同相输入增益:4/8/16/32
– 反相输入增益:3/7/15/31
• 三个OP的同相端、反相端以及输出端均有独立的对外端口
• 三个OP的输出分别与三路ADC通道复用,输出结果可通过ADC结果寄存器读出
• OP1/OP2均可输出到CMP0和CMP3的正端输入
• 输入失调电压≤10mV,需调零
• 压摆率≥10V/us
三个模拟比较器CMP0/1/2
• 三个CMP输出端均可接至PCAP模块
• 三个CMP正端均有独立的对外输入端口
• CMP0的正端CMP0P还可切换至OP1或OP2的输出
• 三个CMP的负端可独立切换至
– 三个CMP共用的对外端口CMPxN
– 内建的DAC输出
– 内建的虚拟中性点
• CMP0/1/2中断可唤醒STOP Mode
• 迟滞电压四档可选:0/5/10/20mV
• 响应时间:典型值50ns
一个独立模拟比较器CMP3
• CMP3正端可切换至
– 外部输入端口 CMP3P
– OP1或OP2的输出
• CMP3负端可切换至
– 外部输入端口CMP3N
– 内建的DAC输出
– VREF的16档分压模块输出
• 中断可唤醒STOP Mode
• 迟滞电压四档可选:0/5/10/20mV
• 响应时间:典型值50ns
温度传感器
• 可通过ADC电路测量温度传感器电压
– 以2.4V内部参考电压作为基准
– 每上升1℃,ADC转换值会增加固定值
运算加速单元(Math Rhythm)
• 提供输入输出接口
• 包含多种运算加速模块:除法、开方、三角函数、反正切、SVPWM、坐标变换、PID等
• 数据通过DMA搬运
资源框图
昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器,已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式,并提供在线、离线双工作模式,尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案,可全面覆盖赛元微电子全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计,赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台,其不仅能适配市场上各类可编程芯片,更以稳定高效的性能表现,成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件,可高效处理大规模芯片烧录任务,满足量产需求。
AP8000主机具备灵活的连接方式,同时配备USB和NET接口,可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能,用户能够轻松实现多台编程器的同步控制,高效开展并行烧录作业。在安全性方面,主机内置智能安全保护电路,可实时监测芯片放置状态与电路连接情况,一旦检测到芯片反插、短路等异常,将立即触发断电保护机制,全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片,大幅提升数据传输与处理效率,确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性,主机背部设置SD卡槽,用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡,并插入卡槽,即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作,实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖,还简化了工作环境搭建流程,显著提升操作灵活性。
在扩展性与兼容性上,AP8000采用底板与适配板模块化组合设计,有效拓展主机功能边界。目前,该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持,覆盖SK hynix, Micron, SANDISK, ASR, Kingston等知名品牌。其支持器件类型广泛,涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等,并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式,为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。
公司介绍
关于赛元微电子:赛元微电子(SinOne)成立于2011年,是一家基于市场需求,为电子产品开发者提供创新且有竞争力MCU平台的集成电路供应商,公司以核心技术、先进的设计能力及数字模拟整合技术能力为客户提供高抗干扰、高可靠性的8位和32位微控制器(MCU)产品,公司产品全部拥有自主知识产权并在技术上处于领先地位。
关于昂科技术:昂科技术(ACROVIEW)是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。
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