AW86008FOR是一款光学防抖(OIS)控制器。该芯片集成了一颗片上32位中央处理器(CPU)作为控制器，配备128KB闪存(flash)和64+16KB静态随机存储器(SRAM)，用于程序存储和数据存储。

AW86008FOR内置的驱动器支持线性电流输出。4通道霍尔(HALL)偏置数模转换器(DAC)可配置为电流输出模式，为霍尔传感器提供供电；4通道隧道磁阻(TMR)偏置数模转换器(DAC)可配置为电压输出模式，为隧道磁阻传感器提供供电。8通道可编程增益放大器(PGA)支持8通道单端信号输入或4通道差分信号输入。

AW86008FOR内置两个串行外设接口(SPI)模块，支持主模式、从模式和监听模式；同时配备两个集成电路总线(I2C)模块，支持主模式和从模式。

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特征

• 四通道闭环控制

• 搭载带浮点运算单元与数字信号处理器的32位ARM架构主控芯片，最高工作主频96兆赫兹

• 闪存容量128千字节；静态随机存储器：程序区64千字节、数据区16千字节；只读存储器8千字节

• 模拟电源电压：2.6伏～3.6伏；驱动电源电压：1.8伏～3.6伏；通用输入输出口电压：1.1伏～3.6伏

• 四通道12位电流型线性驱动器，默认最大输出电流160毫安，最高可支持215毫安

• 八路可编程增益放大器，支持4路差分信号输入或8路单端信号输入

• 八路可编程增益放大器均搭载10位数模转换器，可独立校准失调电压

• 脉冲宽度调制驱动器，支持4路电流输出或4组电压调制输出

• 13路Σ-Δ型模数转换器，可配置12位/14位/16位采样精度

• 四路8位数模转换器，霍尔偏置电流输出范围：0~4毫安

• 四路8位数模转换器，磁阻传感器偏置电压输出范围：1.2~2.5伏

• 两路串行外设接口，可配置主/从/监听模式，支持三线、四线总线切换

• 两路集成电路总线接口，支持主从模式配置

• 支持I3C从机通信及通用异步收发传输器通信

• 集成硬件坐标旋转数字计算单元与数字滤波器

应用

• 手机/虚拟现实/增强现实/无人机

• 摄像机/网络摄像头

• 数码相机/安防监控摄像头

内部框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖艾为电子全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖SK hynix, Micron, SANDISK, ASR, Kingston等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于艾为电子：艾为电子（AWINIC）创立于2008年，专注于高性能数模混合信号、电源管理、信号链等IC设计。艾为电子累计拥有40多种产品子类、产品型号总计近2000款，产品的性能和品质处于业内领先水平。产品广泛应用于消费电子、工业互联和汽车市场，包含智能手机、平板电脑、笔记本电脑、智能穿戴、智能音箱、智能家电、移动支付、物联网、AI教育、智能玩具、服务器、新能源、机器人、无人机、安防、汽车电子等领域。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。